Standard

IEC PAS 62396-5:2007 ED1

Sostituito

Le modifiche e le versioni esistenti o nuove devono essere acquistate separatamente.

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Astratto

Provides a more precise definition of the threat that thermal neutrons pose to avionics as a second mechanism for inducing single event upset in microelectronics.

Specifiche dei prodotti

  • Standard da IEC
  • Pubblicato:
  • Ritirato:
  • Edizione: 1
  • Tipo di documento: PAS
  • Pagine
  • Publisher IEC
  • Distributor IEC
  • ICS 03.100.50
  • ICS 31.020
  • ICS 49.060
  • International TC TC 107

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Ciclo di vita del prodotto