Standard

IEC TS 62396-2:2008 ED1

ago 2008 Sostituito

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Astratto

IEC TS 62396-2:2008 (E) provides guidance related to the testing of microelectronic devices for purposes of measuring their susceptibility to single event effects (SEE) induced by the atmospheric neutrons. Since the testing can be performed in a number of different ways, using different kinds of radiation sources, it also shows how the test data can be used to estimate the SEE rate of devices and boards due to the atmospheric neutrons in the atmosphere at aircraft altitudes.

Specifiche dei prodotti

Standard da IEC
Pubblicato: 19 agosto 2008
Ritirato: 27 settembre 2012
Edizione: 1
Tipo di documento: TS
Pagine
ISBN: 2831899583

Publisher IEC
Distributor IEC
ICS 03.100.50
ICS 31.020
ICS 49.060
International TC TC 107

Relazioni con i prodotti

Revisionato da: IEC 62396-2:2017 ED2
Sostituito da: IEC 62396-2:2012 ED1
Sostituisce: IEC PAS 62396-2:2007 ED1

IEC TS 62396-2:2008 ED1

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