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IEC PAS 62396-2:2007 ED1

set 2007 Sostituito

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Provides guidance related to the testing of microelectronic devices for purposes of measuring their susceptibility to single event effects (SEE) induced by the atmospheric neutrons. Also shows how the test data can be used to estimate the SEE rate of devices and boards due to the atmospheric neutrons in the atmosphere at aircraft altitudes.

Specifiche dei prodotti

Standard da IEC
Pubblicato: 18 settembre 2007
Ritirato: 19 agosto 2008
Edizione: 1
Tipo di documento: PAS
Pagine
ISBN: 2831892023

Publisher IEC
Distributor IEC
ICS 03.100.50
ICS 31.020
ICS 49.060
International TC TC 107

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Revisionato da: IEC 62396-2:2017 ED2
Sostituito da: IEC TS 62396-2:2008 ED1

IEC PAS 62396-2:2007 ED1

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