Standard

NF EN 60749-4:2017

NF C96-022-4:2017

Actuel

Amendements et versions existants ou nouveaux doivent être achetés séparément.

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Résumé

Domaine d'applicationLa présente partie de l'IEC 60749 décrit un essai de contrainte de température et d'humidité fortement accéléré (HAST, highly accelerated temperature and humidity stress test) qui est réalisé dans le but d'évaluer la fiabilité des dispositifs à semiconducteurs sous boîtier non hermétique dans les environnements humides.

Spécifications des produits

  • Standard de AFNOR
  • Publié:
  • Délai d' objection - Expire:
  • Effectif:
  • Type de document: EN
  • Pages
  • Editeur: AFNOR*UTE
  • Distributeur: AFNOR
  • ICS: 31.080.01

Relations produit

  • Remplace: NF EN 60749-4:2002
  • Adopté de: EN 60749-4:2017, IDT
  • Adopté de: IEC 60749-4:2017, EQV