Standard

IEEE C57.12.90-2010

oct. 2010 Révisé

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Note: Version actuelle: IEEE C57.12.90-2021

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Langue Anglais

Format En ligne + PDF CHF 124.00 En ligne CHF 106.00

Il n'y a pas d'édition étendue disponible pour cette norme.

Il n'existe aucun rectificatif technique ou amendement pour cette norme. Ces derniers seront automatiquement ajoutés aux clients d'abonnements.

Résumé

Revision Standard - Superseded. Methods for performing tests specified in IEEE Std C57.12.00(TM) and other standards applicable to liquid-immersed distribution, power, and regulating transformers are described. Instrument transformers, step-voltage and induction voltage regulators, arc furnace transformers, rectifier transformers, specialty transformers, grounding transformers, and mine transformers are excluded. This standard covers resistance measurements, polarity and phase-relation tests, ratio tests, no-load loss and excitation current measurements, impedance and load loss measurements, dielectric tests, temperature tests, short-circuit tests, audible sound level measurements, and calculated data.

Spécifications des produits

Standard de IEEE
Publié: 15 octobre 2010
Type de document: IS
Pages
ISBN: 978-0-7381-6381-9

Editeur: IEEE
Distributeur: IEEE
ICS: 29.180
Comité national: IEEE Power and Energy Society / Transformers

Relations produit

Révisé par: IEEE C57.12.90-2015
Référencé par: IEEE C57.12.37-2015
Référencé par: IEEE C57.12.34-2015
Référencé par: IEEE C57.12.38-2014
Référencé par: IEEE 1861-2014
Référencé par: IEEE 638-2013
Référencé par: IEEE C57.152-2013
Référencé par: IEEE C57.152-2013
Référencé par: IEEE C57.17-2012
Référencé par: IEEE C57.143-2012
Référencé par: IEEE C57.143-2012
Référencé par: IEEE C57.154-2012
Référencé par: IEEE C57.91-2011
Référencé par: IEEE C57.100-2011
Référencé par: IEEE C57.12.80-2010
Référencé par: IEEE C57.12.00-2010
Référence: IEEE C57.12.00-2010
Référencé par: IEEE C57.113-2010
Référencé par: IEEE C57.123-2010
Référencé par: IEEE C57.12.34-2009
Révise: IEEE C57.12.90-2006
Référence: IEEE C57.12.20-2005
Référence: IEEE C57.12.22-1995

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