Standard

IEEE 300-1982

nov. 1992 Révisé

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Résumé

Revision Standard - Superseded. The object of this standard is to establish standard test procedures for semiconductor charged-particle detectors. These detectors are in wide-spread use for the detection and high resolution spectroscopy of charged particles. It is desirable to maintain standard test procedures so that measurements may have the same meaning to all manufacturers and users. Not all tests described in this standard are mandatory, but tests which are used to specify performance shall be performed in accordance with the procedures described herein.

Spécifications des produits

Standard de ANSI/IEEE
Publié: 10 novembre 1992
Type de document: IS
Pages
ISBN: 978-1-5044-0276-7

Editeur: ANSI/IEEE
Distributeur: ANSI/IEEE
Comité national: /

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Référencé par: IEEE 325-1986
Révise: IEEE 300-1969

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