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Search – ICS (International Classification for Standardization)
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29.045 Semiconducting materials
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DIN 50450-9:2021
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Bestimmung von Verunreinigungen in Träger- und Dotiergasen - Teil 9: Bestimmung von Sauerstoff, Stickstoff, Kohlenstoffmonooxid, Kohlenstoffdioxid, Wasserstoff und C<(Index)1>-C<(Index)3>-Kohlenwasserstoffen in Chlorwasserstoff mit GaschromatographieCurrentLanguages: GermanCorrigendums and Amendments (0)Extended editions (0) -
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IEC 60146-1-1:2024 ED5
Semiconductor converters - General requirements and line commutated converters - Part 1-1: Specification of basic requirementsCurrentLanguages: English/FrenchCorrigendums and Amendments (0)CHF 338.00 -
Standard
IEC TR 60146-1-2:2019 ED5
Semiconductor converters - General requirements and line commutated converters - Part 1-2: Application guidelinesCurrentLanguages: EnglishCorrigendums and Amendments (0)CHF 338.00 -
Standard
DIN 50453-2:2023
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Bestimmung der Ätzrate von Ätzmischungen - Teil 2: Siliciumdioxid-Schichten, Optisches VerfahrenCurrentLanguages: GermanCorrigendums and Amendments (0)Extended editions (0)CHF 37.00 -
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ASTM D6095:12(2023)
Standard Test Method for Longitudinal Measurement of Volume Resistivity for Extruded Crosslinked and Thermoplastic Semiconducting Conductor and Insulation Shielding MaterialsCurrentLanguages: EnglishCorrigendums and Amendments (0)CHF 41.00 -
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ASTM F980:16(2024)
Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor DevicesCurrentLanguages: EnglishCorrigendums and Amendments (0)CHF 51.00 -
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IEC 62899-503-3:2021 ED1
Printed electronics - Part 503-3: Quality assessment - Measuring method of contact resistance for the printed thin film transistor - Transfer length methodCurrentLanguages: EnglishCorrigendums and Amendments (0)Extended editions (0)CHF 72.00 -
Standard
ASTM E1438:11(2019)
Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMSCurrentLanguages: EnglishCorrigendums and Amendments (0)CHF 39.00 -
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DIN 50451-5:2022
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Bestimmung von Elementspuren in Flüssigkeiten - Teil 5: Leitlinie zur Auswahl von Werkstoffen und Prüfung ihrer Eignung für Geräte zur Probenahme und Probenvorbereitung für die Elementspuren-Bestimmung im Bereich von Mikrogramm je Kilogramm und Nanogramm je KilogrammCurrentLanguages: GermanCorrigendums and Amendments (0)Extended editions (0)CHF 43.00 -
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DIN 50453-1:2023
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Bestimmung der Ätzraten von Ätzmischungen - Teil 1: Silicium-Einkristalle, Gravimetrisches VerfahrenCurrentLanguages: GermanCorrigendums and Amendments (0)Extended editions (0)CHF 37.00
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