Standard

IEC TS 62396-2:2008 ED1

Aug 2008 Ersetzt

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Zusammenfassung

IEC TS 62396-2:2008 (E) provides guidance related to the testing of microelectronic devices for purposes of measuring their susceptibility to single event effects (SEE) induced by the atmospheric neutrons. Since the testing can be performed in a number of different ways, using different kinds of radiation sources, it also shows how the test data can be used to estimate the SEE rate of devices and boards due to the atmospheric neutrons in the atmosphere at aircraft altitudes.

Produktspezifikationen

Standard von IEC
Ausgabedatum: 19. August 2008
Rückzugsdatum: 27. September 2012
Edition: 1
Dokumenttyp: TS
Seiten
ISBN: 2831899583

Herausgeber: IEC
Lieferant: IEC
ICS: 03.100.50
ICS: 31.020
ICS: 49.060
Internationales Komitee: TC 107

Produktbeziehungen

Revidiert durch: IEC 62396-2:2017 ED2
Ersetzt durch: IEC 62396-2:2012 ED1
Ersetzt: IEC PAS 62396-2:2007 ED1

IEC TS 62396-2:2008 ED1

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