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IEC PAS 62396-2:2007 ED1

Sep 2007 Ersetzt

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Zusammenfassung

Provides guidance related to the testing of microelectronic devices for purposes of measuring their susceptibility to single event effects (SEE) induced by the atmospheric neutrons. Also shows how the test data can be used to estimate the SEE rate of devices and boards due to the atmospheric neutrons in the atmosphere at aircraft altitudes.

Produktspezifikationen

Standard von IEC
Ausgabedatum: 18. September 2007
Rückzugsdatum: 19. August 2008
Edition: 1
Dokumenttyp: PAS
Seiten
ISBN: 2831892023

Herausgeber: IEC
Lieferant: IEC
ICS: 03.100.50
ICS: 31.020
ICS: 49.060
Internationales Komitee: TC 107

Produktbeziehungen

Revidiert durch: IEC 62396-2:2017 ED2
Ersetzt durch: IEC TS 62396-2:2008 ED1

IEC PAS 62396-2:2007 ED1

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