Standard

IEEE 1149.4-1999

mar 2000 Rivisto

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New IEEE Standard - Superseded. The testability structure for digital circuits described in IEEE Std 1149.1-1990 has been extended to provide similar facilities for mixed-signal circuits. The architecture is described, together with the means of control of and access to both analog and digital test data. Sample implementation and application details (which are not part of the standard) are included for illustration.

Specifiche dei prodotti

Standard da IEEE
Pubblicato: 20 marzo 2000
Tipo di documento: IS
Pagine
ISBN: 978-0-7381-1756-0

Publisher IEEE
Distributor IEEE
ICS 31.180
National Committee IEEE Computer Society / Test Technology

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Revisionato da: IEEE 1149.4-2010
Riferito da: IEEE 1149.1-2001

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