Standard

IEEE 1581-2011

juin 2011 Radié

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Résumé

New IEEE Standard - Inactive-Reserved. IEEE Std 1581 defines a low-cost method for testing the interconnection of discrete, complex memory integrated circuits (ICs) where additional pins for testing are not available and implementing boundary scan (IEEE Std 1149.1(TM)) is not feasible. This standard describes the implementation rules for the test logic and test mode access/exit methods in compliant ICs. The standard is limited to the behavioral description of the implementation and will not include the technical design for the test logic or test mode control circuitry.

Spécifications des produits

Standard de IEEE
Publié: 20 juin 2011
Radié: 24 mars 2022
Type de document: IS
Pages
ISBN: 978-0-7381-6613-1

Editeur: IEEE
Distributeur: IEEE
ICS: 31.200
Comité national: IEEE Computer Society / Test Technology

Relations produit

Référence: IEEE 1149.1-2001

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