Standard

IEEE 1581-2011

juin 2011 Radié

Connectez-vous ou enregistrez-vous pour ajouter ce produit à vos favoris.
Connectez-vous ou enregistrez-vous afin d'être notifié lorsque de nouvelles versions de ce produit sont disponibles.

Amendements et versions existants ou nouveaux doivent être achetés séparément.

Langue Anglais

Format En ligne + PDF CHF 92.00 En ligne CHF 79.00

Il n'y a pas d'édition étendue disponible pour cette norme.

Il n'existe aucun rectificatif technique ou amendement pour cette norme. Ces derniers seront automatiquement ajoutés aux clients d'abonnements.

Résumé

New IEEE Standard - Inactive-Reserved. IEEE Std 1581 defines a low-cost method for testing the interconnection of discrete, complex memory integrated circuits (ICs) where additional pins for testing are not available and implementing boundary scan (IEEE Std 1149.1(TM)) is not feasible. This standard describes the implementation rules for the test logic and test mode access/exit methods in compliant ICs. The standard is limited to the behavioral description of the implementation and will not include the technical design for the test logic or test mode control circuitry.

Spécifications des produits

Standard de IEEE
Publié: 20 juin 2011
Radié: 24 mars 2022
Type de document: IS
Pages
ISBN: 978-0-7381-6613-1

Editeur: IEEE
Distributeur: IEEE
ICS: 31.200
Comité national: IEEE Computer Society / Test Technology

Relations produit

Référence: IEEE 1149.1-2001

Extended editions Autres éditions (0)

Version history Corrigenda et Amendements connexes (0)

Résumé

Spécifications des produits

Relations produit