Standard

IEC PAS 62191:2000 ED1

Remplacé

Amendements et versions existants ou nouveaux doivent être achetés séparément.

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Résumé

Defines the procedures for performing acoustic microscopy on nonhermetic encapsulated electronic components. Provides users with an acoustic microscopy process flow for detecting anomalies (delamination, cracks, mold compounds voids, etc.) nondestructively in plastic packages while achieving reproducibility.

Spécifications des produits

  • Standard de IEC
  • Publié:
  • Radié:
  • Version: 1
  • Type de document: PAS
  • Pages
  • Editeur: IEC
  • Distributeur: IEC
  • ICS: 31.080.01
  • Comité international: TC 47

Cycle de vie du produit