Standard

IEC 62433-6:2020 ED1

Actuel

Amendements et versions existants ou nouveaux doivent être achetés séparément.

Langue
Service

Résumé

L'IEC 62433-6:2020 a pour objet de décrire la méthode d'extraction d’un macromodèle d'immunité d'un circuit intégré aux décharges électrostatiques (DES) conduites selon l'IEC 61000-4-2 et aux transitoires électriques rapides (TER) selon l'IEC 61000‑4‑4. Le modèle couvre les dommages physiques dus à la surtension, les dommages thermiques et d’autres modes de défaillance. Les défaillances fonctionnelles peuvent également être traitées par ce modèle. Ce modèle permet de simuler l'immunité du circuit intégré dans une application. Ce modèle est communément appelé "modèle d'immunité des circuits intégrés – immunité aux impulsions conduites" (ICIM-CPI – integrated circuit immunity model conducted pulse immunity). Le présent document fournit: - la description des éléments de macromodèle ICIM-CPI représentant le comportement électrique, thermique ou logique du circuit intégré; - un format universel d'échange de données fondé sur le langage XML.

Spécifications des produits

  • Standard de IEC
  • Publié:
  • Version: 1
  • Type de document: IS
  • Pages
  • Editeur: IEC
  • Distributeur: IEC
  • ICS: 31.200
  • Comité international: TC 47/SC 47A

Relations produit

  • Accord de Francfort: prEN IEC 62433-6:2020