Standard

SN EN ISO 1463:1995

Jan 1995 Zurückgezogen

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Sprache Deutsch

Format Online + PDF CHF 44,00 Online CHF 38,00

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Zusammenfassung

Das Dokument legt ein Verfahren zur Messung der örtlichen Dicke von Metall-, Oxid- und Emailschichten durch mikroskopische Untersuchung von Querschliffen mit einem Lichtmikroskop fest.

Produktspezifikationen

Standard von INB
Ausgabedatum: 1. Januar 1995
Rückzugsdatum: 1. August 2004
Gültig ab: 1. April 1995
Dokumenttyp: EN
Seiten
ISBN:

ICS: 17.040.20
Herausgeber: SNV
Lieferant: SNV
Nationales Komitee: INB/NK 179

Produktbeziehungen

Ersetzt durch: SN EN ISO 1463:2004
Übernommen von: ISO 1463:1982, IDT
Übernommen von: EN ISO 1463 , IDT

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