Standard

SAE J1752/2_199503

Mär 1995 Zurückgezogen

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Zusammenfassung

This SAE Recommended Practice defines a method for evaluating the near field magnetic component of the electromagnetic radiation from an integrated circuit. The method uses a shielded, single turn loop as a probe to measure magnetic emissions from 1 to 1000 MHz at a controlled distance and orientation from an integrated circuit. The method primarily measures the magnetic field generated by IC current loops perpendicular to the IC surface in the lead frame. This document is applicable to measurements from an individual IC mounted on a standardized test board or in-situ on a circuit board. Comparisons using the IC emissions reference levels require using identical circuit boards or the standardized IC test board.

Produktspezifikationen

Standard von SAE International
Ausgabedatum: 1. März 1995
Rückzugsdatum: 21. Januar 2003
Dokumenttyp: IS
Seiten
ISBN:

Herausgeber: SAE International
Lieferant: SAE International

Produktbeziehungen

referenziert: SAE J1752/1_201605
referenziert: SAE J1113/1_201310
Ersetzt durch: SAE J1752/2_200301

SAE J1752/2_199503

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