Standard

IEEE 1149.4-1999

Mär 2000 Revidiert

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Zusammenfassung

New IEEE Standard - Superseded. The testability structure for digital circuits described in IEEE Std 1149.1-1990 has been extended to provide similar facilities for mixed-signal circuits. The architecture is described, together with the means of control of and access to both analog and digital test data. Sample implementation and application details (which are not part of the standard) are included for illustration.

Produktspezifikationen

Standard von IEEE
Ausgabedatum: 20. März 2000
Dokumenttyp: IS
Seiten
ISBN: 978-0-7381-1756-0

Herausgeber: IEEE
Lieferant: IEEE
ICS: 31.180
Nationales Komitee: IEEE Computer Society / Test Technology

Produktbeziehungen

Revidiert durch: IEEE 1149.4-2010
referenziert von: IEEE 1149.1-2001

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