Standard

IEC TS 62396-5:2008 ED1

Aug 2008 Ersetzt

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Zusammenfassung

IEC TS 62396-5:2008 (E) provides a more precise definition of the threat that thermal neutrons pose to avionics as a second mechanism for inducing single event upset (SEU) in microelectronics. Addresses more in detail the following: detailed evaluation of the existing literature on measurements of the thermal flux inside of airliners; an enhanced compilation of the thermal neutron SEU cross section in currently available SRAM devices (more than 20 different devices).

Produktspezifikationen

Standard von IEC
Ausgabedatum: 19. August 2008
Rückzugsdatum: 22. August 2014
Edition: 1
Dokumenttyp: TS
Seiten
ISBN: 2831899591

Herausgeber: IEC
Lieferant: IEC
ICS: 03.100.50
ICS: 31.020
ICS: 49.060
Internationales Komitee: TC 107

Produktbeziehungen

Ersetzt durch: IEC 62396-5:2014 ED1
Ersetzt: IEC PAS 62396-5:2007 ED1

IEC TS 62396-5:2008 ED1

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