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ISO 11505:2012

dic 2012 Attuale

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ISO 11505:2013 describes a glow discharge optical emission spectrometric (GD-OES) method for the determination of the thickness, mass per unit area and chemical composition of surface layer films. It is limited to a description of general procedures of quantification of GD-OES and is not applicable directly for the quantification of individual materials having various thicknesses and elements to be determined.

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Standard da ISO
Pubblicato: 12 dicembre 2012
Edizione: 1
Tipo di documento: IS
Pagine
ISBN:

Publisher ISO
Distributor ISO
ICS 71.040.40
International TC ISO/TC 201/SC 8

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Revisionato da: ISO/PRF 11505
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