Standard

IEEE 1581-2011

giu 2011 Ritirato

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New IEEE Standard - Inactive-Reserved. IEEE Std 1581 defines a low-cost method for testing the interconnection of discrete, complex memory integrated circuits (ICs) where additional pins for testing are not available and implementing boundary scan (IEEE Std 1149.1(TM)) is not feasible. This standard describes the implementation rules for the test logic and test mode access/exit methods in compliant ICs. The standard is limited to the behavioral description of the implementation and will not include the technical design for the test logic or test mode control circuitry.

Specifiche dei prodotti

Standard da IEEE
Pubblicato: 20 giugno 2011
Ritirato: 24 marzo 2022
Tipo di documento: IS
Pagine
ISBN: 978-0-7381-6613-1

Publisher IEEE
Distributor IEEE
ICS 31.200
National Committee IEEE Computer Society / Test Technology

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Riferimenti: IEEE 1149.1-2001

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