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IEC PAS 62205:2000 ED1

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Aims at determining the effect on solid state electronic devices of storage at elevated temperature without electrical stress applied. This test is considered destructive.

Specifiche dei prodotti

  • Standard da IEC
  • Pubblicato:
  • Ritirato:
  • Edizione: 1
  • Tipo di documento: PAS
  • Pagine
  • Publisher IEC
  • Distributor IEC
  • ICS 31.080.01
  • International TC TC 47

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Ciclo di vita del prodotto