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IEC PAS 62191:2000 ED1

nov 2000 Sostituito

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Defines the procedures for performing acoustic microscopy on nonhermetic encapsulated electronic components. Provides users with an acoustic microscopy process flow for detecting anomalies (delamination, cracks, mold compounds voids, etc.) nondestructively in plastic packages while achieving reproducibility.

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Standard da IEC
Pubblicato: 28 novembre 2000
Ritirato: 31 gennaio 2002
Edizione: 1
Tipo di documento: PAS
Pagine
ISBN: 2831854695

Publisher IEC
Distributor IEC
ICS 31.080.01
International TC TC 47

IEC PAS 62191:2000 ED1

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