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IEC PAS 62162:2000 ED1

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Describes a uniform method for establishing charged-device model (CDM) electrostatic discharge (ESD) withstand thresholds. All packages semiconductor components, thin film circuits, surface acoustic wave (SAW) components, opto-electronic components, hybrid integrated circuits (HICS), and multi-chip modules (MCMs) containing any of these components are to be evaluated according to this standard. IEC/PAS 62162 will be re-issued in the form of IEC international standard under reference IEC 60748-20.

Specifiche dei prodotti

  • Standard da IEC
  • Pubblicato:
  • Ritirato:
  • Edizione: 1
  • Tipo di documento: PAS
  • Publisher IEC
  • Distributor IEC
  • ICS 31.080.01
  • International TC TC 47

Relazioni con i prodotti

Ciclo di vita del prodotto