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IEC 62220-1:2003 ED1

ott 2003 Sostituito

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Specifies the method for the determination of the detective quantum efficiency (DQE) of digital X-ray imaging devices as a function of exposure and of spatial frequency for the working conditions in the range of the medical application as specified by the manufacturer. Is applicable to projection digital X-ray imaging devices producing images in digital format that are used for medical diagnosis. It is restricted to digital X-ray imaging devices that are used for radiographic imaging, such as CR systems, selenium-based systems, flat panel detectors, optically coupled CCD detectors, and digital X-ray image intensifiers used for single exposures.

Specifiche dei prodotti

Standard da IEC
Pubblicato: 23 ottobre 2003
Ritirato: 12 marzo 2015
Edizione: 1
Tipo di documento: IS
Pagine
ISBN: 2831872006

Publisher IEC
Distributor IEC
ICS 11.040.50
International TC TC 62/SC 62B

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