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NF EN 61788-1:2007

NF C31-888-1:2007

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Amendements et versions existants ou nouveaux doivent être achetés séparément.

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Résumé

Cette partie de la IEC 61788 couvre une méthode d'essai pour la détermination du courant critique continu des supraconducteurs en composite Cu/Nb-Ti qui ont un rapport cuivre/supraconducteur supérieur à 1 ou des fils Cu/Cu-Ni/Nb-Ti qui ont un rapport cuivre/supraconducteur supérieur à 0,9 et un alliage cuivre (Cu-Ni)/supraconducteur supérieur à 0,2, où le diamètre des filaments supraconducteurs Nb-Ti est supérieur à 1 micromètre. Les modifications pour les Cu/Cu-Ni/Nb-Ti sont décrites dans l' Annexe C. Les Cu-Ni pourront faire référence aux parties principales de cette norme avec les exceptions listées dans l'Annexe C qui remplacent (et dans certains cas contredisent) certaines étapes du texte principal.La présente méthode est destinée à être utilisée avec des supraconducteurs caractérisés par des courants critiques inférieurs à 1 000 A et des valeurs n supérieures à 12, dans des conditions d'essai normalisées et avec des champs magnétiques inférieurs ou égaux à 0,7 fois la valeur du champ magnétique critique le plus élevé. Le spécimen d'essai est immergé dans un bain d'hélium liquide à une température mesurée pendant l'essai. Le conducteur d'essai en composite Cu/Nb-Ti a une structure monolithique, avec une superficie de section ronde ou rectangulaire inférieure à 2 mm2. Le spécimen utilisé dans la présente méthode d'essai a la forme d'une bobine inductive. La présente norme présente les écarts par rapport à la méthode d'essai qui sont autorisés dans les essais de série, ainsi que d'autres restrictions spécifiques.

Spécifications des produits

  • Standard de AFNOR
  • Publié:
  • Délai d' objection - Expire:
  • Effectif:
  • Type de document: EN
  • Pages
  • Editeur: AFNOR*UTE
  • Distributeur: AFNOR
  • ICS: 29.050
  • ICS: 29.060.10

Relations produit