Standard

IEC PAS 62189:2000 ED1

nov. 2000 Remplacé

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Résumé

This test is performed to determine the effects of bias conditions and temperature on solid state devices over an extended period of time. It is intended primarily for device qualification and reliability monitoring.

Spécifications des produits

Standard de IEC
Publié: 28 novembre 2000
Radié: 23 février 2004
Version: 1
Type de document: PAS
Pages
ISBN: 2831854679

Editeur: IEC
Distributeur: IEC
ICS: 31.080.01
Comité international: TC 47

Relations produit

Remplacé par: IEC 60749-23:2004+AMD1:2011 CSV
Remplacé par: IEC 60749-23:2004 ED1

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