Standard

IEC PAS 62181:2000 ED1

Remplacé

Amendements et versions existants ou nouveaux doivent être achetés séparément.

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Résumé

Establishes a method for determining IC latch-up characteristics and to define latch-up failure criteria. Applicable to NMOS, CMOS, bipolar, and all variations and combinations of these technologies.

Spécifications des produits

  • Standard de IEC
  • Publié:
  • Radié:
  • Version: 1
  • Type de document: PAS
  • Pages
  • Editeur: IEC
  • Distributeur: IEC
  • Comité international: TC 47

Relations produit

Cycle de vie du produit