Standard

IEC PAS 62162:2000 ED1

août 2000 Remplacé

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Résumé

Describes a uniform method for establishing charged-device model (CDM) electrostatic discharge (ESD) withstand thresholds. All packages semiconductor components, thin film circuits, surface acoustic wave (SAW) components, opto-electronic components, hybrid integrated circuits (HICS), and multi-chip modules (MCMs) containing any of these components are to be evaluated according to this standard. IEC/PAS 62162 will be re-issued in the form of IEC international standard under reference IEC 60748-20.

Spécifications des produits

Standard de IEC
Publié: 22 août 2000
Radié: 3 mai 2017
Version: 1
Type de document: PAS
Pages
ISBN: 2831852889

Editeur: IEC
Distributeur: IEC
ICS: 31.080.01
Comité international: TC 47

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Remplacé par: IEC 60749-28:2017 ED1

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