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IEC 62496-2-4:2013 ED1

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Résumé

La CEI 62496-2-4:2013 spécifie la méthode d'essai utilisée pour déterminer l'acceptation ou le rejet d'une carte à circuits optiques en la soumettant à l'éclairement direct d'une lampe. On soumet les ports d'entrée à un éclairage direct et on surveille l'intensité optique issue des ports de sortie de la carte à circuits optiques à l'aide d'un capteur d'image bidimensionnel. On calcule ensuite les affaiblissements optiques excédentaires à partir de la somme des intensités lumineuses détectées sur un échantillon à mesurer et sur un échantillon témoin. Cette méthode permet d'éclairer uniformément le port d'entrée de la carte à circuits optiques (OCB) sur une surface supérieure à celle du c ur, d'obtenir la luminance de l'image bidimensionnelle issue du port de sortie correspondant de l'OCB à l'aide d'un capteur d'image bidimensionnel, et d'évaluer s'il faut accepter ou rejeter la carte en comparant la luminance obtenue à celle d'un échantillon témoin. Cette méthode d'essai a pour avantage de ne pas nécessiter d'alignement entre une fibre d'injection et l'OCB. Mots clés: essai utilisée pour déterminer l'acceptation ou le rejet d'une carte à circuits optiques, OCB, capteur d'image bidimensionnel

Spécifications des produits

  • Standard de IEC
  • Publié:
  • Version: 1
  • Type de document: IS
  • Pages
  • Editeur: IEC
  • Distributeur: IEC
  • ICS: 33.180.01
  • Comité international: TC 86

Relations produit