Standard

IEC 62220-1:2003 ED1

oct. 2003 Remplacé

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Résumé

Specifies the method for the determination of the detective quantum efficiency (DQE) of digital X-ray imaging devices as a function of exposure and of spatial frequency for the working conditions in the range of the medical application as specified by the manufacturer. Is applicable to projection digital X-ray imaging devices producing images in digital format that are used for medical diagnosis. It is restricted to digital X-ray imaging devices that are used for radiographic imaging, such as CR systems, selenium-based systems, flat panel detectors, optically coupled CCD detectors, and digital X-ray image intensifiers used for single exposures.

Spécifications des produits

Standard de IEC
Publié: 23 octobre 2003
Radié: 12 mars 2015
Version: 1
Type de document: IS
Pages
ISBN: 2831872006

Editeur: IEC
Distributeur: IEC
ICS: 11.040.50
Comité international: TC 62/SC 62B

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