Standard

IEC 61340-3-2:2002 ED1

mars 2002 Révisé

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Note: Version actuelle: IEC 61340-3-2:2006 ED2

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Langue Anglais/Français

Format En ligne + PDF CHF 42,00 En ligne CHF 36,00

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Résumé

Décrit les formes d'onde de courant de décharge utilisées pour définir le MM et les prescriptions d'appareils de base utilisés pour développer ces formes d'onde. Les paramètres d'essai sont définis pour les essais et la classification de la sensibilité des décharges électrostatiques (ESD) des composants à semiconducteur dispositifs de faible puissance au MM. L'objet de cette norme est d'établir un modèle d'essai qui reproduit des défaillances du MM et définit la forme de la décharge de courant transitoire du MM et tous les paramètres d'essai nécessaires pour assurer des résultats d'essai fiableset reproductibles. Les données reproductibles permettent des comparaisons précises des niveaux de sensibilité des décharges électrostatiques (ESD) du MM.

Spécifications des produits

Standard de IEC
Publié: 25 mars 2002
Radié: 14 décembre 2006
Version: 1
Type de document: IS
Pages
ISBN: 2831862485

Editeur: IEC
Distributeur: IEC
ICS: 17.220.99
ICS: 29.020
Comité international: TC 101

Relations produit

Révisé par: IEC 61340-3-2:2006 ED2

IEC 61340-3-2:2002 ED1

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