Standard

IEC 61280-2-8:2003 ED1

févr. 2003 Révisé

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Résumé

La CEI 61280-2-8:2003 spécifie deux méthodes principales de détermination de faibles valeurs de TEB en réalisant des mesures accélérées. Celles-ci incluent la méthode du seuil de décision variable (Article 4) et la méthode du seuil optique variable (Article 5). En outre, une troisième méthode, la méthode de brouillage sinusoïdal, est décrite à l'Annexe B. Mots clés: faibles valeurs de TEB, la méthode du seuil de décision variable, la méthode du seuil optique variable, la méthode de brouillage sinusoïdal

Spécifications des produits

Standard de IEC
Publié: 11 février 2003
Radié: 2 mars 2021
Version: 1
Type de document: IS
Pages
ISBN: 2831868211

Editeur: IEC
Distributeur: IEC
ICS: 33.180.10
Comité international: TC 86/SC 86C

Relations produit

Révisé par: IEC 61280-2-8:2021 ED2
Révisé par: IEC 61280-2-8:2021 RLV

IEC 61280-2-8:2003 ED1

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