Consolidated

IEC 61000-4-17:1999+AMD1:2001+AMD2:2008 CSV

janv. 2009 Actuel

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Langue Anglais/Français

Format En ligne + PDF CHF 137,00 En ligne CHF 117,00

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Résumé

Définit les méthodes d'essai d'immunité aux ondulations résiduelles appliquées à l'entrée de l'alimentation en courant continu des matériels électriques ou électroniques. S'applique aux entrées de puissance en courant continu basse tension des matériels alimentés par des systèmes redresseurs externes ou par des batteries qui sont en charge. Cette norme définit - la forme d'onde de la tension d'essai; - une gamme de niveaux d'essai; - le générateur d'essai; - l'installation d'essai; - la procédure d'essai. Cette version consolidée comprend la première édition (1999), son amendement 1 (2001) et son amendement 2 (2008). Il n'est donc pas nécessaire de commander les amendements avec cette publication.

Spécifications des produits

Consolidated de IEC
Publié: 28 janvier 2009
Version: 1.2
Type de document: IS
Pages
ISBN: 9782889103850

Editeur: IEC
Distributeur: IEC
ICS: 33.100.20
Comité international: TC 77/SC 77A

IEC 61000-4-17:1999+AMD1:2001+AMD2:2008 CSV

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