Standard

IEC 60749-23:2004 ED1

Actuel

Note: Version actuelle: IEC 60749-23:2004+AMD1:2011 CSV

Amendements et versions existants ou nouveaux doivent être achetés séparément.

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Résumé

Cet essai est utilisé pour déterminer les effets des conditions de polarisation et de température avec le temps sur des dispositifs à semiconducteurs. Il simule les conditions de fonctionnement des dispositifs d'une manière accélérée et il est essentiellement destiné à la qualification des dispositifs et au contrôle de fiabilité.

Spécifications des produits

  • Standard de IEC
  • Publié:
  • Version: 1
  • Type de document: IS
  • Pages
  • Editeur: IEC
  • Distributeur: IEC
  • ICS: 31.080.01
  • Comité international: TC 47

Relations produit