Standard

IEC 60749-23:2004 ED1

févr. 2004 Actuel

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Note: Version actuelle: IEC 60749-23:2004+AMD1:2011 CSV

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Langue Anglais/Français

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Amendement 1 - Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 23: Durée de vie en fonctionnement à haute température Actuel IEC 60749-23:2004/AMD1:2011 ED1 Amendment de Date de publication : janv. 2011 Pages: 5 Langue: Anglais/Français Format: En ligne, En ligne + PDF

Résumé

Cet essai est utilisé pour déterminer les effets des conditions de polarisation et de température avec le temps sur des dispositifs à semiconducteurs. Il simule les conditions de fonctionnement des dispositifs d'une manière accélérée et il est essentiellement destiné à la qualification des dispositifs et au contrôle de fiabilité.

Spécifications des produits

Standard de IEC
Publié: 23 février 2004
Version: 1
Type de document: IS
Pages
ISBN: 2831873983

Editeur: IEC
Distributeur: IEC
ICS: 31.080.01
Comité international: TC 47

Relations produit

Remplace: IEC PAS 62189:2000 ED1

IEC 60749-23:2004 ED1

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IEC 60749-23:2004+AMD1:2011 CSV