Consolidated

IEC 60749:1996+AMD1:2000+AMD2:2001 CSV

Remplacé

Amendements et versions existants ou nouveaux doivent être achetés séparément.

Langue
Format

Résumé

Donne la liste des méthodes d'essais applicables aux dispositifs à semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits intégrés), parmi lesquelles on peut effectuer un choix. Etablit des méthodes d'essais préférées uniformes avec des valeurs préférentielles pour les niveaux de contraintes, afin d'apprécier les propriétés mécaniques et climatiques des dispositifs à semiconducteurs.

Spécifications des produits

  • Consolidated de IEC
  • Publié:
  • Radié:
  • Version: 2.2
  • Type de document: IS
  • Pages
  • Editeur: IEC
  • Distributeur: IEC
  • ICS: 31.080.01
  • Comité international: TC 47

Relations produit

Cycle de vie du produit