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IEC 60749-18:2019 ED2

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Amendements et versions existants ou nouveaux doivent être achetés séparément.

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Résumé

IEC 60749-18:2019 est disponible sous forme de IEC 60749-18:2019 RLV qui contient la Norme internationale et sa version Redline, illustrant les modifications du contenu technique depuis l'édition précédente. L’IEC 60749-18:2019 présente une procédure d’essai permettant de définir les exigences pour soumettre à essai des circuits intégrés à semiconducteurs sous boîtier et des dispositifs discrets à semiconducteurs, concernant les effets des rayonnements ionisants (dose totale) provenant d’une source de rayons gamma au cobalt-60 (60Co). D’autres sources de rayonnements appropriées peuvent être utilisées. Le présent document ne concerne que les irradiations continues et ne s’applique pas aux irradiations pulsées. Il est destiné aux applications des domaines militaire et aérospatial. Il s’agit d’un essai destructif. Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l’édition précédente: - mises à jour apportées aux paragraphes afin de mieux aligner la méthode d’essai avec la méthode 1019 du document MIL-STD 883J, comprenant l’utilisation de l’essai de sensibilité accrue au faible débit de dose (ELDRS); - ajout d’une bibliographie, comprenant les normes ASTM correspondant à la présente méthode d’essai.

Spécifications des produits

  • Standard de IEC
  • Publié:
  • Version: 2
  • Type de document: IS
  • Pages
  • Editeur: IEC
  • Distributeur: IEC
  • ICS: 31.080.01
  • Comité international: TC 47

Relations produit

Cycle de vie du produit