Standard

IEC 60747-1:2006 ED2

Actuel

Note: Version actuelle: IEC 60747-1:2006+AMD1:2010 CSV

Amendements et versions existants ou nouveaux doivent être achetés séparément.

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Résumé

La CEI 60747-1:2006 spécifie les exigences générales applicables aux dispositifs discrets à semiconducteurs et aux circuits intégrés couverts par les autres parties de la CEI 60747 et de la CEI 60748 (voir Annexe A). Cette deuxième édition de la CEI 60747-1 annule et remplace la première édition (1983) et ses amendements 1 (1991), 2 (1993) et 3 (1996). Les principaux changements par rapport à l'édition précédente sont énumérés ci-dessous: a) La terminologie figurant actuellement dans le VEI (ou qui était en contradiction avec le VEI) a été omise. b) Les lignes directrices relatives aux valeurs limites et caractéristiques essentielles ont fait l'objet d'une révision générale. c) La distinction entre méthodes de mesure générales et de référence a été supprimée. d) Un article relatif à l'annonce de suppression d'un produit a été ajouté.

Spécifications des produits

  • Standard de IEC
  • Publié:
  • Version: 2
  • Type de document: IS
  • Pages
  • Editeur: IEC
  • Distributeur: IEC
  • ICS: 31.080.01
  • Comité international: TC 47

Relations produit