Standard

ISO/TR 15969:2001

Mai 2001 Zurückgezogen

Anmelden oder Registrieren um zu den Favoriten hinzuzufügen.
Anmelden oder Registrieren, um Benachrichtigungen zu erhalten, wenn neue Versionen oder Ergänzungen zu diesem Artikel zur Verfügung gestellt werden.

Hinweis: Neuste Ausgabe: ISO/TR 15969:2021

Vorschau Externer Link

Bestehende oder zukünftige Amendments und Versionen müssen separat erworben werden.

Sprache Englisch

Format Online + PDF CHF 69.00 Online CHF 59.00

Für diese Norm sind keine erweiterten Ausgaben verfügbar

Zu dieser Norm ist kein Corrigendum oder Amendment verfügbar. Wenn Sie über ein Abonnement verfügen, werden diese automatisch geliefert.

Zusammenfassung

This Technical Report gives guidelines for measuring the sputtered depth in sputtered depth profiling. The methods of sputtered depth measurement described in this Technical Report are applicable to techniques of surface chemical analysis when used in combination with ion bombardment for the removal of a part of a solid sample to a typical sputtered depth of up to severalmicrometres.

Produktspezifikationen

Standard von ISO
Ausgabedatum: 31. Mai 2001
Rückzugsdatum: 17. März 2021
Edition: 1
Dokumenttyp: TR
Seiten
ISBN:

Herausgeber: ISO
Lieferant: ISO
ICS: 71.040.40
Internationales Komitee: ISO/TC 201/SC 4

Produktbeziehungen

Revidiert durch: ISO/TR 15969:2021

ISO/TR 15969:2001

Abonnement anlegen

ISO/TR 15969:2021

ISO/TR 15969:2001

Zusammenfassung

Produktspezifikationen

Produktbeziehungen

Produktlebenszyklus

Abonnement anlegen

Extended editions Weitere Ausgaben (0)

Version history Zugehörige Corrigenda und Amendments (0)

Version history History (2)

ISO/TR 15969:2021

ISO/TR 15969:2001

Zusammenfassung

Produktspezifikationen

Produktbeziehungen

Produktlebenszyklus