Standard

IEC PAS 62205:2000 ED1

Nov 2000 Ersetzt

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Zusammenfassung

Aims at determining the effect on solid state electronic devices of storage at elevated temperature without electrical stress applied. This test is considered destructive.

Produktspezifikationen

Standard von IEC
Ausgabedatum: 28. November 2000
Rückzugsdatum: 1. Juli 2002
Edition: 1
Dokumenttyp: PAS
Seiten
ISBN: 2831854814

Herausgeber: IEC
Lieferant: IEC
ICS: 31.080.01
Internationales Komitee: TC 47

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Ersetzt durch: IEC 60749-6:2002 ED1

IEC PAS 62205:2000 ED1

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