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IEC PAS 62191:2000 ED1

Nov 2000 Ersetzt

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Defines the procedures for performing acoustic microscopy on nonhermetic encapsulated electronic components. Provides users with an acoustic microscopy process flow for detecting anomalies (delamination, cracks, mold compounds voids, etc.) nondestructively in plastic packages while achieving reproducibility.

Produktspezifikationen

Standard von IEC
Ausgabedatum: 28. November 2000
Rückzugsdatum: 31. Januar 2002
Edition: 1
Dokumenttyp: PAS
Seiten
ISBN: 2831854695

Herausgeber: IEC
Lieferant: IEC
ICS: 31.080.01
Internationales Komitee: TC 47

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