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IEC 62047-29:2017 ED1

Nov 2017 Aktuell

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Zusammenfassung

IEC 62047-29:2017(E) specifies a relaxation test method for measuring electromechanical properties of freestanding conductive thin films for micro-electromechanical systems (MEMS) under controlled strain and room temperature. Freestanding thin films of conductive materials are extensively utilized in MEMS, opto-electronics, and flexible/wearable electronics products. Freestanding thin films in the products experience external and internal stresses which could be relaxed even under room temperature during a period of operation, and this relaxation leads to time-dependent variation of electrical performances of the products. This test method is valid for isotropic, homogeneous, and linearly viscoelastic materials.

Produktspezifikationen

Standard von IEC
Ausgabedatum: 22. November 2017
Edition: 1
Dokumenttyp: IS
Seiten
ISBN: 9782832250464

Herausgeber: IEC
Lieferant: IEC
ICS: 31.080.99
Internationales Komitee: TC 47/SC 47F

Produktbeziehungen

Übernommen durch: NF EN 60118-14:1998
Übernommen durch: SN EN 60118-14:1998

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