Standard

IEC 61788-1:1998 ED1

Feb 1998 Revidiert

Anmelden oder Registrieren um zu den Favoriten hinzuzufügen.
Anmelden oder Registrieren, um Benachrichtigungen zu erhalten, wenn neue Versionen oder Ergänzungen zu diesem Artikel zur Verfügung gestellt werden.

Hinweis: Neuste Ausgabe: IEC 61788-1:2006 ED2

Vorschau Externer Link

Bestehende oder zukünftige Amendments und Versionen müssen separat erworben werden.

Sprache Englisch/Französisch

Format Online + PDF CHF 158,00 Online CHF 135,00

Für diese Norm sind keine erweiterten Ausgaben verfügbar

Zu dieser Norm ist kein Corrigendum oder Amendment verfügbar. Wenn Sie über ein Abonnement verfügen, werden diese automatisch geliefert.

Zusammenfassung

Covers a test method for the determination of the d.c. critical current of Cu/Nb-Ti composite superconductors that have a copper/superconductor ratio larger than 1. This method is intended for use with superconductors that have critical currents less than 1000 A and n-values larger than 12, under standard test conditions and at magnetic fields less than or equal to 0,7 of the upper critical magnetic field.

Produktspezifikationen

Standard von IEC
Ausgabedatum: 19. Februar 1998
Rückzugsdatum: 21. November 2006
Edition: 1
Dokumenttyp: IS
Seiten
ISBN: 2831842794

Herausgeber: IEC
Lieferant: IEC
ICS: 17.220.20
ICS: 29.050
Internationales Komitee: TC 90

Produktbeziehungen

Revidiert durch: IEC 61788-1:2006 ED2

IEC 61788-1:1998 ED1

Abonnement anlegen

IEC 61788-1:2006 ED2