Standard

IEC 61445:2012 ED1

Jun 2012 Aktuell

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Zusammenfassung

IEC 61445:2012(E) defines the information content and the data formats for the interchange of digital test program data between DATPGs and automatic test equipment (ATE) for board-level printed circuit assemblies. This information can be broadly grouped into data that defines the following: a) UUT Model; b) Stimulus and Response; c) Fault Dictionary; d) Probe.

Produktspezifikationen

Standard von IEEE
Ausgabedatum: 21. Juni 2012
Edition: 1
Dokumenttyp: IS
Seiten
ISBN: 9782832201053

Herausgeber: IEEE
Lieferant: IEEE
ICS: 25.040.01
ICS: 35.060
Internationales Komitee: TC 91

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