Standard

IEC 60749-8:2002 ED1

Aug 2002 Aktuell

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Bestehende oder zukünftige Amendments und Versionen müssen separat erworben werden.

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Aktuell IEC 60749-8:2002/COR2:2003 ED1 Corrigendum von Ausgabedatum: Aug 2003 Sprache: Englisch/Französisch Format: Online, Online + PDF
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Aktuell IEC 60749-8:2002/COR1:2003 ED1 Corrigendum von Ausgabedatum: Apr 2003 Sprache: Englisch/Französisch Format: Online, Online + PDF

Zusammenfassung

Applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits), it determines the leak rate of semiconductor devices. The contents of the corrigenda of April 2003 and August 2003 have been included in this copy.

Produktspezifikationen

Standard von IEC
Ausgabedatum: 30. August 2002
Edition: 1
Dokumenttyp: IS
Seiten
ISBN: 283186559X

Herausgeber: IEC
Lieferant: IEC
ICS: 31.080.01
Internationales Komitee: TC 47

Produktbeziehungen

Ersetzt teilweise: IEC 60749:1996 ED2

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