Standard

IEC 60749-7:2002 ED1

Apr 2002 Revidiert

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Hinweis: Neuste Ausgabe: IEC 60749-7:2011 ED2

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Sprache Englisch/Französisch

Format Online + PDF CHF 21,00 Online CHF 18,00

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Revidiert IEC 60749-7:2002/COR1:2003 ED1 Corrigendum von Ausgabedatum: Aug 2003 Sprache: Englisch/Französisch Format: Online, Online + PDF

Zusammenfassung

Aims at testing and measuring the water vapour and other gas content of the atmosphere inside a metal or ceramic hermetically sealed device. Applicable to semiconductor devices sealed in such a manner but generally only used for high reliability applications such as military or aerospace. The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy.

Produktspezifikationen

Standard von IEC
Ausgabedatum: 9. April 2002
Rückzugsdatum: 17. Juni 2011
Edition: 1
Dokumenttyp: IS
Seiten
ISBN: 2831862760

Herausgeber: IEC
Lieferant: IEC
ICS: 31.080.01
Internationales Komitee: TC 47

Produktbeziehungen

Revidiert durch: IEC 60749-7:2011 ED2
Ersetzt teilweise: IEC 60749:1996+AMD1:2000+AMD2:2001 CSV ED2.2
Ersetzt teilweise: IEC 60749:1996 ED2

IEC 60749-7:2002 ED1

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IEC 60749-7:2011 ED2