Standard

IEC 60749-6:2002 ED1

Apr 2002 Revidiert

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Hinweis: Neuste Ausgabe: IEC 60749-6:2017 ED2

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Sprache Englisch/Französisch

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Revidiert IEC 60749-6:2002/COR1:2003 ED1 Corrigendum von Ausgabedatum: Aug 2003 Sprache: Englisch/Französisch Format: Online, Online + PDF

Zusammenfassung

Aims at testing and determining the effect on all semiconductor electronic devices of storage at elevated temperature without electrical stress applied. This test is considered non-destructive. The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy.

Produktspezifikationen

Standard von IEC
Ausgabedatum: 12. April 2002
Rückzugsdatum: 3. März 2017
Edition: 1
Dokumenttyp: IS
Seiten
ISBN: 2831862884

Herausgeber: IEC
Lieferant: IEC
ICS: 31.080.01
Internationales Komitee: TC 47

Produktbeziehungen

Revidiert durch: IEC 60749-6:2017 ED2
Ersetzt: IEC PAS 62205:2000 ED1
Ersetzt teilweise: IEC 60749:1996 ED2

IEC 60749-6:2002 ED1

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