Standard

IEC 60749-4:2002 ED1

Apr 2002 Revidiert

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Hinweis: Neuste Ausgabe: IEC 60749-4:2017 ED2

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Sprache Englisch/Französisch

Format Online + PDF CHF 21,00 Online CHF 18,00

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Revidiert IEC 60749-4:2002/COR1:2003 ED1 Corrigendum von Ausgabedatum: Aug 2003 Sprache: Englisch/Französisch Format: Online, Online + PDF

Zusammenfassung

Provides a highly accelerated temperature and humidity stress test (HAST) for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged semiconductor devices in humid environments. The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy.

Produktspezifikationen

Standard von IEC
Ausgabedatum: 12. April 2002
Rückzugsdatum: 3. März 2017
Edition: 1
Dokumenttyp: IS
Seiten
ISBN: 2831862892

Herausgeber: IEC
Lieferant: IEC
ICS: 31.080.01
Internationales Komitee: TC 47

Produktbeziehungen

Revidiert durch: IEC 60749-4:2017 ED2
Ersetzt: IEC PAS 62177:2000 ED1
Ersetzt teilweise: IEC 60749:1996 ED2

IEC 60749-4:2002 ED1

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