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IEC 60749-36:2003 ED1

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Zusammenfassung

Provides a test for determining the effects of constant acceleration on cavity-type semiconductor devices. It is an accelerated test designed to indicate types of structural and mechanical weaknesses not necessarily detected in shock and vibration test.

Produktspezifikationen

  • Standard von IEC
  • Ausgabedatum:
  • Edition: 1
  • Dokumenttyp: IS
  • Seiten
  • Herausgeber: IEC
  • Lieferant: IEC
  • ICS: 31.080.01
  • Internationales Komitee: TC 47

Produktbeziehungen