Standard

IEC 60749-32:2002 ED1

Aug 2002 Aktuell

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Hinweis: Neuste Ausgabe: IEC 60749-32:2002+AMD1:2010 CSV

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Bestehende oder zukünftige Amendments und Versionen müssen separat erworben werden.

Sprache Englisch/Französisch

Format Online + PDF CHF 21,00 Online CHF 18,00

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Aktuell IEC 60749-32:2002/AMD1:2010 ED1 Amendment von Ausgabedatum: Jul 2010 Seiten: 4 Sprache: Englisch/Französisch Format: Online, Online + PDF
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Aktuell IEC 60749-32:2002/COR1:2003 ED1 Corrigendum von Ausgabedatum: Aug 2003 Sprache: Englisch/Französisch Format: Online, Online + PDF

Zusammenfassung

Applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits), this test determines whether the device ignites due to external heating. The test uses a needle flame, simulating the effect of small flames which may result from fault conditions within equipment containing the device. The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy.

Produktspezifikationen

Standard von IEC
Ausgabedatum: 30. August 2002
Edition: 1
Dokumenttyp: IS
Seiten
ISBN: 2831865581

Herausgeber: IEC
Lieferant: IEC
ICS: 31.080.01
Internationales Komitee: TC 47

Produktbeziehungen

Ersetzt teilweise: IEC 60749:1996 ED2

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Version history Zugehörige Corrigenda und Amendments (2)

IEC 60749-32:2002/AMD1:2010 ED1

IEC 60749-32:2002/COR1:2003 ED1

Version history History (2)

IEC 60749-32:2002+AMD1:2010 CSV