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IEC 60749-32:2002+AMD1:2010 CSV ED1.1

Nov 2010 Aktuell

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Zusammenfassung

IEC 60749-32:2002+A1:2010 is applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits). The object of this test is to determine whether the device ignites due to external heating. The test uses a needle flame, simulating the effect of small flames which may result from fault conditions within equipment containing the device. This consolidated version consists of the first edition (2002) and its amendment 1 (2010). Therefore, no need to order amendment in addition to this publication.

Produktspezifikationen

Standard von IEC
Ausgabedatum: 29. November 2010
Edition: 1.1
Dokumenttyp: IS
Seiten
ISBN:

Herausgeber: IEC
Lieferant: IEC
ICS: 31.080.01
Internationales Komitee: TC 47

IEC 60749-32:2002+AMD1:2010 CSV ED1.1

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