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Standard

IEC 60749-23:2004 ED1

Aktuell

Hinweis: Neuste Ausgabe: IEC 60749-23:2004+AMD1:2011 CSV

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Bestehende oder zukünftige Amendments und Versionen müssen separat erworben werden.

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Zusammenfassung

This test is used to determine the effects of bias conditions and temperature on solid state devices over time. It simulates the device operating condition in an accelerated way, and is primarily used for device qualification and reliability monitoring.

Produktspezifikationen

  • Standard von IEC
  • Ausgabedatum:
  • Edition: 1
  • Dokumenttyp: IS
  • Seiten
  • Herausgeber: IEC
  • Lieferant: IEC
  • ICS: 31.080.01
  • Internationales Komitee: TC 47

Produktbeziehungen

Produktlebenszyklus